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ICP光譜儀是根據(jù)處于激發(fā)態(tài)的待測元素原子回到基態(tài)時發(fā)射的特征譜線對待測元素進行分析的方法。ICP光譜儀主要應(yīng)用于無機元素的定性及定量分析。 下面小編就介紹一下它的兩種校正方法。
一、分析校正
分析校正是為了讓所測元素濃度與儀器所檢測到的光強度建立起聯(lián)系，就是我們常說的做標準曲線，輸^事先配好的標樣值，再讓儀器對其進行檢測，讓檢測值與濃度之間建立起關(guān)系曲線，未知樣品濃度按照該曲線及所；剛得濃度值得出。在ICP—OES的分馓正中，檢測值與濃度之間—般是線性關(guān)系。
在實際工作中，存在其他元素峰對所測元素峰有干擾的情況時，可以通過調(diào)節(jié)計算方法及火焰觀測方式來減小誤差，提高線性相關(guān)系數(shù)。這里需要說明線性相關(guān)系數(shù)是準確度的必要不充分條件。
二、波長校正
波長校正是為使實際波長同檢測器檢出波長相一致。大致可分為兩分部：首先通調(diào)整儀器來對光譜儀進行校正，然后是通過漂移補償?shù)霓k法減少因環(huán)境的變換導(dǎo)致譜線產(chǎn)生位移。光譜校正是儀器實際測得的波長與理論波長之間出現(xiàn)的偏差別進行的校正，一般是通過測試一系列元素的波長來進行校正，校正后所得數(shù)據(jù)即為對光譜彼進行校正的校正數(shù)據(jù)。
漂移補嘗是因為光普儀光譜線位移與波長、溫度、濕度、壓力變化之間有非線性函數(shù)關(guān)系，這種函數(shù)關(guān)系具有普遍適用性。其中零級光譜線隨波長、溫度變化產(chǎn)生的位移最大。漂移補償是一種常規(guī)監(jiān)視過程，其原理是在進樣間歇期間，監(jiān)測多條氫線波長，將實際值與理論值相比較，并對誤差進行補償。
ICP光譜儀主要用于微量元素的分析，可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、 硫等少量的非金屬，共 72 種。廣泛地應(yīng)用于質(zhì)量控制的元素分析，超微量元素 的檢測，尤其是在環(huán)保領(lǐng)域的水質(zhì)監(jiān)測。還可以對常量元素進行檢測，例如組分 的測量中，主要成分的元素測定。
